測(cè)定界址點(diǎn)是地籍細(xì)部測(cè)量的核心工作。測(cè)定界址點(diǎn)的位置有兩種方法，即解析法和勘丈法。解析法測(cè)定界址點(diǎn)位置是利用地籍控制點(diǎn)起算數(shù)據(jù)（坐標(biāo)、方位角）及實(shí)際觀測(cè)數(shù)據(jù)（角度、距離），按公式計(jì)算界址點(diǎn)的坐標(biāo)?？闭煞ㄊ抢昧咳〗缰伏c(diǎn)之間、界址點(diǎn)與其鄰近地物點(diǎn)的關(guān)系距離在圖上確定界址點(diǎn)位置，界址點(diǎn)的坐標(biāo)可以在圖上圖解獲得。當(dāng)所有界址點(diǎn)都采用解析法測(cè)定界址點(diǎn)時(shí)，叫做解析法地籍測(cè)量；只有部分界址點(diǎn)（通常是街坊外圍的界址點(diǎn)以及大單位宗地的部分界址點(diǎn)）采用解析法測(cè)定界址點(diǎn)，其余界址點(diǎn)位采用勘丈法確定時(shí)，叫做部分解析法地籍測(cè)量；當(dāng)所有界址點(diǎn)都采用勘丈法測(cè)定時(shí)，叫做圖解勘丈法地籍測(cè)量。
    一、解析法測(cè)定界址點(diǎn)
    解析法測(cè)定界址點(diǎn)位置按使用的數(shù)學(xué)公式，可分為極坐標(biāo)法、截距法（或插點(diǎn)法）、距離交會(huì)法（即測(cè)邊交會(huì)法）、直角坐標(biāo)法、前方交會(huì)法等幾種方法。
    （一）極坐標(biāo)法
    如圖3-1所示，將經(jīng)緯儀安置在已知點(diǎn)A上，后視另一已知點(diǎn)B，讀取后視方向值，然后觀測(cè)至各界址點(diǎn)的方向，從而可算得各方向與后視方向的夾角β，用測(cè)距儀測(cè)量測(cè)站點(diǎn)至各界址點(diǎn)的距離D。采用極坐標(biāo)法測(cè)量時(shí)，界址點(diǎn)坐標(biāo)可按下式計(jì)算：
    X i = X A + D × cos ( α 0 + β i )
    Y i = Y A + D × sin ( α 0 + β i ) (3-7)
    式中： X i 、 Y i —— 待測(cè)界址點(diǎn)坐標(biāo)；
    X A 、 Y A —— 測(cè)站點(diǎn)已知坐標(biāo)；
    D —— 測(cè)站點(diǎn)到待測(cè)界址點(diǎn)距離；
    α 0 —— 已知方位角；
    β i —— 觀測(cè)角。
    （二）截距法（或插點(diǎn)法）
    如圖 3 – 2 所示，A、B、P1三點(diǎn)在一條直線上，A、B
    兩點(diǎn)的坐標(biāo)已知，實(shí)地利用測(cè)距儀或鋼尺丈量A點(diǎn)到P1點(diǎn)的距離。按下式計(jì)算P1點(diǎn)坐標(biāo)：
    X 1 = X A + D 1（ X B － X A ） /D （ 3-8 ）
    Y 1 = Y A + D 1（ Y B － Y A ） /D
    式中： X 1 、 Y 1 ——待測(cè)界址點(diǎn)坐標(biāo)；
    X A 、 Y A 、 X B 、 Y B ——已知點(diǎn)坐標(biāo)；
    D 1 —— A 點(diǎn)到 P 1 點(diǎn)的距離；
    D —— A 點(diǎn)到 B 點(diǎn)的距離。