項(xiàng)目量化管理與量化質(zhì)量目標(biāo)
CMU SEI的CMMI模型中，把一個(gè)軟件企業(yè)的軟件能力成熟度分成五個(gè)等級(jí)。分別為初始級(jí)，可重復(fù)級(jí)，已定義級(jí)，已管理級(jí)和優(yōu)化級(jí)。各成熟度等級(jí)的特征如下：
初始級(jí)—軟件過(guò)程是無(wú)序，無(wú)章可循的，軟件項(xiàng)目的成功依賴項(xiàng)目組中的關(guān)鍵成員的個(gè)人能力，項(xiàng)目的成功是偶然和不可預(yù)見(jiàn)的。
可重復(fù)級(jí)—項(xiàng)目已經(jīng)定義了最基本的項(xiàng)目管理過(guò)程，對(duì)項(xiàng)目的進(jìn)度，成本和質(zhì)量在一定程度上起到控制作用，對(duì)同類型的項(xiàng)目，一些成功的經(jīng)驗(yàn)是可以被復(fù)用和優(yōu)化到新的項(xiàng)目過(guò)程中去的。
已定義級(jí)—軟件項(xiàng)目管理過(guò)程已經(jīng)上升為組織級(jí)別的標(biāo)準(zhǔn)過(guò)程規(guī)范。組織的項(xiàng)目過(guò)程采用或裁剪自組織標(biāo)準(zhǔn)過(guò)程。
已管理級(jí)—軟件過(guò)程表現(xiàn)逐步穩(wěn)定，軟件過(guò)程和產(chǎn)品質(zhì)量都能有量化的衡量準(zhǔn)則，可以量化控制和預(yù)測(cè)過(guò)程和產(chǎn)品質(zhì)量。
優(yōu)化級(jí)—在已管理級(jí)的基礎(chǔ)上，通過(guò)對(duì)過(guò)程革新，來(lái)不斷的優(yōu)化過(guò)程，從而達(dá)到持續(xù)改進(jìn)。
那么，對(duì)于達(dá)到或者將要達(dá)到已管理級(jí)的這些公司，如何利用這些過(guò)程數(shù)據(jù)來(lái)控制和預(yù)測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量呢？基于規(guī)模數(shù)據(jù)和缺陷數(shù)據(jù)是很多公司比較早收集的，而且相關(guān)過(guò)程也是比較早達(dá)到穩(wěn)定的，我們可以先從缺陷數(shù)據(jù)開始入手，建立初步的質(zhì)量目標(biāo)分解和質(zhì)量預(yù)測(cè)體系。
構(gòu)建缺陷分布模型和項(xiàng)目缺陷密度性能基線
對(duì)于達(dá)到成熟度等級(jí)四級(jí)的公司來(lái)說(shuō)，基于這個(gè)成熟度等級(jí)的項(xiàng)目一般來(lái)說(shuō)項(xiàng)目管理、評(píng)審、測(cè)試等子過(guò)程的過(guò)程性能比較穩(wěn)定，因此也有條件生成該過(guò)程的過(guò)程性能基線。通俗的講，我們可以把一個(gè)公司某個(gè)過(guò)程的過(guò)程性能基線看作是該公司該過(guò)程的基準(zhǔn)值。如，測(cè)試缺陷密度性能基線為[25±2] 個(gè)/千行，那么類似的項(xiàng)目的缺陷表現(xiàn)就可以參照這個(gè)數(shù)據(jù)了。
對(duì)于構(gòu)建本模型，我們需要一個(gè)缺陷分布模型和一個(gè)缺陷密度性能基線數(shù)據(jù)。假設(shè)A公司X類項(xiàng)目的缺陷分布模型如下：
缺陷發(fā)現(xiàn)階段缺陷比例
1-User Requirement / System Requirement Review3%
2-High Level Design Review4%
3-Low Level Design Review4%
4-Unit Test14%
5-Code Review15%
6-System Integration Test51%
7-External Defects9%
假設(shè)A公司X類項(xiàng)目的缺陷密度性能基線為M1 = [25±2] 個(gè)/千行。
設(shè)定質(zhì)量目標(biāo)
按照項(xiàng)目給定的范圍，進(jìn)行項(xiàng)目規(guī)模估算。假設(shè)估算的項(xiàng)目規(guī)模是Size = 20，000行，那么，根據(jù)缺陷密度性能基線數(shù)據(jù)，可以推算，該項(xiàng)目預(yù)計(jì)的缺陷總數(shù)為M2 = M1*Size/1000，得出M2 = [500±40] 個(gè)。然后按照缺陷分布模型的百分比，可以把缺陷發(fā)現(xiàn)指標(biāo)分解到各個(gè)階段中，如下表：
項(xiàng)目實(shí)施階段缺陷發(fā)現(xiàn)質(zhì)量目標(biāo) （個(gè)）
1-User Requirement / System Requirement Review14±1
2-High Level Design Review19±2
3-Low Level Design Review19±2
4-Unit Test71±6
5-Code Review75±6
6-System Integration Test255±20
7-External Defects47±4
這樣我們就得到了每個(gè)階段缺陷發(fā)現(xiàn)的目標(biāo)數(shù)和控制上下限，并作為質(zhì)量目標(biāo)固定下來(lái)了。
CMU SEI的CMMI模型中，把一個(gè)軟件企業(yè)的軟件能力成熟度分成五個(gè)等級(jí)。分別為初始級(jí)，可重復(fù)級(jí)，已定義級(jí)，已管理級(jí)和優(yōu)化級(jí)。各成熟度等級(jí)的特征如下：
初始級(jí)—軟件過(guò)程是無(wú)序，無(wú)章可循的，軟件項(xiàng)目的成功依賴項(xiàng)目組中的關(guān)鍵成員的個(gè)人能力，項(xiàng)目的成功是偶然和不可預(yù)見(jiàn)的。
可重復(fù)級(jí)—項(xiàng)目已經(jīng)定義了最基本的項(xiàng)目管理過(guò)程，對(duì)項(xiàng)目的進(jìn)度，成本和質(zhì)量在一定程度上起到控制作用，對(duì)同類型的項(xiàng)目，一些成功的經(jīng)驗(yàn)是可以被復(fù)用和優(yōu)化到新的項(xiàng)目過(guò)程中去的。
已定義級(jí)—軟件項(xiàng)目管理過(guò)程已經(jīng)上升為組織級(jí)別的標(biāo)準(zhǔn)過(guò)程規(guī)范。組織的項(xiàng)目過(guò)程采用或裁剪自組織標(biāo)準(zhǔn)過(guò)程。
已管理級(jí)—軟件過(guò)程表現(xiàn)逐步穩(wěn)定，軟件過(guò)程和產(chǎn)品質(zhì)量都能有量化的衡量準(zhǔn)則，可以量化控制和預(yù)測(cè)過(guò)程和產(chǎn)品質(zhì)量。
優(yōu)化級(jí)—在已管理級(jí)的基礎(chǔ)上，通過(guò)對(duì)過(guò)程革新，來(lái)不斷的優(yōu)化過(guò)程，從而達(dá)到持續(xù)改進(jìn)。
那么，對(duì)于達(dá)到或者將要達(dá)到已管理級(jí)的這些公司，如何利用這些過(guò)程數(shù)據(jù)來(lái)控制和預(yù)測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量呢？基于規(guī)模數(shù)據(jù)和缺陷數(shù)據(jù)是很多公司比較早收集的，而且相關(guān)過(guò)程也是比較早達(dá)到穩(wěn)定的，我們可以先從缺陷數(shù)據(jù)開始入手，建立初步的質(zhì)量目標(biāo)分解和質(zhì)量預(yù)測(cè)體系。
構(gòu)建缺陷分布模型和項(xiàng)目缺陷密度性能基線
對(duì)于達(dá)到成熟度等級(jí)四級(jí)的公司來(lái)說(shuō)，基于這個(gè)成熟度等級(jí)的項(xiàng)目一般來(lái)說(shuō)項(xiàng)目管理、評(píng)審、測(cè)試等子過(guò)程的過(guò)程性能比較穩(wěn)定，因此也有條件生成該過(guò)程的過(guò)程性能基線。通俗的講，我們可以把一個(gè)公司某個(gè)過(guò)程的過(guò)程性能基線看作是該公司該過(guò)程的基準(zhǔn)值。如，測(cè)試缺陷密度性能基線為[25±2] 個(gè)/千行，那么類似的項(xiàng)目的缺陷表現(xiàn)就可以參照這個(gè)數(shù)據(jù)了。
對(duì)于構(gòu)建本模型，我們需要一個(gè)缺陷分布模型和一個(gè)缺陷密度性能基線數(shù)據(jù)。假設(shè)A公司X類項(xiàng)目的缺陷分布模型如下：
缺陷發(fā)現(xiàn)階段缺陷比例
1-User Requirement / System Requirement Review3%
2-High Level Design Review4%
3-Low Level Design Review4%
4-Unit Test14%
5-Code Review15%
6-System Integration Test51%
7-External Defects9%
假設(shè)A公司X類項(xiàng)目的缺陷密度性能基線為M1 = [25±2] 個(gè)/千行。
設(shè)定質(zhì)量目標(biāo)
按照項(xiàng)目給定的范圍，進(jìn)行項(xiàng)目規(guī)模估算。假設(shè)估算的項(xiàng)目規(guī)模是Size = 20，000行，那么，根據(jù)缺陷密度性能基線數(shù)據(jù)，可以推算，該項(xiàng)目預(yù)計(jì)的缺陷總數(shù)為M2 = M1*Size/1000，得出M2 = [500±40] 個(gè)。然后按照缺陷分布模型的百分比，可以把缺陷發(fā)現(xiàn)指標(biāo)分解到各個(gè)階段中，如下表：
項(xiàng)目實(shí)施階段缺陷發(fā)現(xiàn)質(zhì)量目標(biāo) （個(gè)）
1-User Requirement / System Requirement Review14±1
2-High Level Design Review19±2
3-Low Level Design Review19±2
4-Unit Test71±6
5-Code Review75±6
6-System Integration Test255±20
7-External Defects47±4
這樣我們就得到了每個(gè)階段缺陷發(fā)現(xiàn)的目標(biāo)數(shù)和控制上下限，并作為質(zhì)量目標(biāo)固定下來(lái)了。