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    南京信息工程大學2019考研大綱：F41現(xiàn)代分析測試方法
    科目代碼：F41
    科目名稱：《現(xiàn)代分析測試方法》
    第一部分：大綱內容
    第一章 X射線衍射分析
    1. 了解X射線的性質與X射線譜;掌握X射線與物質的相互作用。
    2. 掌握布拉格方程的意義，了解勞厄方程。
    3. 理解影響X射線衍射強度的因素及產(chǎn)生衍射的條件。
    4. 了解X射線衍射儀的構造，實驗方法及樣品制備。
    5. 掌握X射線的物相定性分析方法。
    6. 掌握點陣常數(shù)的精確測定方法。
    7. 掌握利用X射線衍射測定宏觀應力及微觀應力的方法。
    8. 理解X射線衍射在多晶體的織構分析中的應用。
    9. 了解利用X射線衍射測定晶粒大小的方法。
    10. 掌握小角X射線散射的基本概念及其應用。
    第二章 電子顯微分析
    1. 掌握電子與固體物質的相互作用;電子衍射的概念。
    2. 掌握透射電子顯微鏡的工作原理。
    3. 掌握透射電鏡中的電子衍射原理;常見的電子衍射花樣。
    4. 理解透射電鏡的圖像襯度理論。
    5. 了解透射電鏡的樣品制備方法。
    6. 理解高分辨電子顯微像的形成原理。
    7. 掌握掃描電鏡的結構、工作原理;掃描電鏡的主要性能參數(shù)。
    8. 掌握二次電子襯度像的應用;背散射電子襯度像的應用。
    9. 掌握電子探針的工作原理，掌握電子探針分析及應用。
    第三章 表面分析技術
    1. 了解俄歇電子的產(chǎn)生過程;影響俄歇電子能力的主要因素。
    2. 掌握俄歇電子能譜分析及應用。
    3. 掌握X射線光電子能譜分析方法及應用。
    4. 了解掃描隧道電鏡的功能，掌握兩種掃描模式的特點。
    5. 掌握原子力顯微鏡的結構及工作原理，三種工作模式;了解原子力顯微鏡的應用。
    6. 了解低能電子衍射原理及應用，掌握二維點陣的倒易空間。
    第四章 熱分析技術
    1. 掌握熱分析技術的分類。
    2. 掌握熱分析測量的影響因素。
    3. 掌握四大熱分析方法(差熱分析、差示掃描量熱分析、熱重分析、熱機械分析)的原理、特點及應用。
    4. 了解熱分析技術的新發(fā)展。
    第五章 光譜分析
    1. 了解吸收光譜的分類。
    2. 了解紫外光譜的產(chǎn)生過程、紫外光譜儀的結構及測試原理。
    3. 掌握紫外吸收光譜分析及應用。
    4. 掌握紅外光譜分析原理及應用。
    5. 理解拉曼位移的概念，掌握拉曼散射光譜分析原理及應用。
    第二部分：說明
    1、基本要求
    《現(xiàn)代分析測試方法》課程的任務是重點掌握X射線衍射分析和電子顯微分析的基本概念、基本原理，掌握運用X射線衍射和電子衍射進行材料分析的基本方法，并使學生了解電子衍射與X射線衍射之間的區(qū)別與聯(lián)系，了解其它的常見材料研究方法，包括掃描電鏡、電子探針、俄歇電子能譜、低能電子衍射、掃描隧道電鏡等。
    2、分值比例
    考試方式為閉卷筆試。考試時間為180分鐘，總分為150分。各章考題所占分數(shù)大致如下：
    X射線衍射分析 約40%
    電子顯微分析 約40%
    表面分析技術 約5%
    熱分析技術 約5%
    光譜分析 約10%
    3、題型分布：名詞解釋、填空、簡答、問答、計算題。其難易度分為易、較易、較難、難四級，每份試卷中四種難易度，試題分數(shù)比例一般為2：3：3：2。
    4、其他規(guī)定：無
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